CSK-IA试块

使用要点：

1)利用厚度25mm测定探伤仪的水平线性、垂直线性和动态范围；

2)利用厚度25mm和高度100mm调整纵波探测范围；

3)利用R50和R100校定时基线或测定斜探头的入射点；

4)利用高度85、91、100ram测定直探头的分辨力；

5)利用中40、中44、中50ram曲面测定斜探头的分辨力；

6)利用中50有机玻璃圆孔测定直探头盲区和穿透能力；

7)利用中50曲面和巾1．5横孔测定斜探头的K值；

8)利用高度9lmm(纵波声程9lmm相当于横波50mm)调节横波1：1扫描速度，配合R100作零位校正；

9)、利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。

主要用途：

①绘制距离-波幅曲线

②调整探测范围和扫描速度

③测定斜探头的K值

CSK-IA和CSK-IB试块的区别

两个试块的主要区别在于：CSK-IB试块在原有CSK-IA的基础上增加了测试斜探头折射角的刻度面。